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電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱

設(shè)備介紹：

   電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱 根據(jù)試驗(yàn)需求及測試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗(yàn)方式和設(shè)備的內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷箱，蓄熱箱和試驗(yàn)箱，產(chǎn)品在測試時(shí)是放置在試驗(yàn)箱內(nèi)。兩箱式分為高溫箱和低溫箱，是通過電機(jī)帶動(dòng)吊籃升降來實(shí)現(xiàn)高低溫的切換，要測試的通信、通訊產(chǎn)品放在吊籃里，是隨吊籃一起移動(dòng)的.更多可聯(lián)系18033338362.

電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱主要參數(shù)：

1.內(nèi)箱尺寸： 350*400*350mm  （寬，高，深）

  外箱尺寸： 1560*2000*1500  （寬，高，深）

2．高低溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃（測試箱溫度范圍）

3.預(yù)熱溫度范圍：常溫～+165℃；（儲(chǔ)存箱溫度范圍）

4.預(yù)冷溫度范圍：常溫～-65℃；約60min（儲(chǔ)存箱溫度范圍）

                            （注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能）

5．試驗(yàn)方式：2溫區(qū)或3溫區(qū)可選擇；

6．溫度波動(dòng)度：±0.5℃

7．溫度偏差：±2.0℃

8．溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間：≤5min

9．溫度沖擊移動(dòng)復(fù)時(shí)間：≤10S

10．試樣限制：本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。

電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱測控系統(tǒng)：

1.控制器：日本OYO9226S觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊

2.運(yùn)行方式：程序方式

     ﹙1﹚控制對(duì)象  試驗(yàn)區(qū)曝露溫度

                     高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度

                     低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度

                     低溫恒溫區(qū)除霜溫度

     ﹙2﹚指示精度  0.1℃

     ﹙3﹚輸    入  熱電偶  TDIN

     ﹙4﹚控制方式  微電腦PID+SSR控制

3.設(shè)定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。

4.程序容量：100組程式，每個(gè)程序最大3步；每個(gè)程序可設(shè)1000次循環(huán)，最大循環(huán)設(shè)定9999cycles;

5.設(shè)定范圍：預(yù)熱預(yù)冷箱區(qū)

    原理：電子設(shè)備高低溫測試設(shè)備 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱主要用于測試復(fù)合材料或材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下沖擊所能忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測樣品因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。是LED、金屬、光電、塑料、照明、橡膠、通訊、電子等成品或半成品材料行業(yè)必備的溫沖測試設(shè)備。